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X射线荧光镀层厚度测量仪 FT110系列

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  • 商品说明

1.即放即测! 2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量! 3.可无标样测量! 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置!

■主要特点

●通过自动定位功能提高操作性

测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。

微区膜厚测量精度提高

通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.10.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。

多达5层的多镀层测量

使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达510元素的多镀层测量。

广域观察系统(选配)

可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。

对应大型印刷线路板(选配)

可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。

低价位

与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。


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